HAD-P350UVS 紫外辐射照度仪

紫外光谱辐照计  紫外辐射照度仪 型号：HAD-P350UVS

集光谱、紫外辐照度、紫外UVA、紫外UVB、紫外UVC、波长等测量功能参数于一体,光谱分析法是数字积分方法，不受被测光源光谱分布和探测器响应带宽函数的影响，是精度高的紫外辐射照度的测量方法。采用5英寸大屏，可测量多类紫外宽窄光谱光源、适用于测量紫外全波段的光谱辐射照度及波长、高的光谱分辨率、高的测量精度。低可定制扩展到180nm，针对臭氧185nm波长的定性检测。

紫外辐射照度仪可测量参数 波长范围：200-450nm

◎紫外危害辐照度（uW/cm2） ◎紫外辐照度EUV （uW/cm2） ◎主波长 (nm）

◎紫外辐照度UVA（uW/cm2） ◎Ec自定义波段辐照度（uW/cm2） ◎质心波长 (nm)

◎紫外辐照度UVB（uW/cm2） ◎光谱功率分布 ◎辐照度 (uW/cm2)

◎紫外辐照度UVC（uW/cm2） ◎半宽度（nm） ◎峰值波长 (nm)

◎Eb蓝光辐照度 （uW/cm2） ◎积分时间（ms) ◎中心波长 (nm)

注：波段 测量范围 测量条件

UVA 1.0uW/cm2～1000mW/cm2 低压汞灯峰值波长365nm、半宽度16.7nm在测量条件下

UVB 0.1uW/cm2～100mW/cm2 低压汞灯峰值波长311nm、半宽度2.9nm在测量条件下

UVC 0.1uW/cm2～100mW/cm2 低压汞灯峰值波长254nm、半宽度2.2nm在测量条件下

备注：

实际辐照度测量范围由光源的光谱决定，光源光谱越宽，辐照度越大；光源光谱越窄，辐照度越小。

紫外辐射照度仪主要技术指标

系统可定制多国语言

分光平台 长焦交叉非对称CT分光系统

光学宽带 1.5nm（FWHM）

光谱分辨率 0.2nm 传感器 CCD,3648 dots

积分时间 10us-10s

显示屏 5＇HD IPS LCD

分辨率 480×854

测量模式 单次/连续

曝光模式 自动/手动

显示模式 6项参数可选

显示模式 光谱分布曲线

输出格式 表格,图片

探头窗口 φ10mm 波长准确度 ±0.3nm 波长间隔 1nm

Ad分辨率 16bits,250kSPS

语言 简体/繁体/English

文件保存 8GB SD Card

数据输出接口 SD Card/USB2.0

尺寸(L x W x H) 138×81×23mm