防雷元件测试仪/防雷元件检测仪

产品/服务：防雷元件测试仪/防雷元件检测仪
型号：HL-FC-2G
品牌：恒奥德
单价：面议
更新日期：2024-07-02
有效期至：长期有效
浏览次数：904

产品简介

防雷元件测试仪/防雷元件检测仪型号：HL-FC-2G适用于氧化锌避雷器(压敏电阻),金属陶瓷二、三电放电管、真空避lei管等过压防护...

产品详细介绍

1.防雷元件测试仪/防雷元件检测仪型号：HL-FC-2G

    适用于氧化锌避雷器(压敏电阻),金属陶瓷二、三电放电管、真空避lei管等过压防护元件直流参数的测量。也可作稳压、恒流电源, 使用于其它方面。
1.作原理：
    在测量压敏电阻时，DC/DC变换器在定的频脉冲的驱动下，将12v直流电压升变为测试压敏电阻时所需要的直流压。在测试放电管时，斜率控制电路控制DC/DC变换器，使其输出的电压值在20~1700v内以每秒100v的上升率上升到放电管放电。
2.使用范围：
    适用于氧化锌避雷器(压敏电阻),金属陶瓷二、三电放电管、真空避lei管等过压防护元件直流参数的测量。
3.产品别称：
    压敏电阻测试仪、放电管测试仪、防雷器测试仪。

●适用于氧化锌避雷器(压敏电阻),金属陶瓷二、三电放电管、真空避lei管等过压防护元件直流参数的测量。也可作稳压、恒流电源, 使用于其它方面。
●具有压短路保护、过流保护、压预置、量程调节等能,压自泄放时间小于0.5秒。
●具有自检能。
●测量数据由三位半LCD数字显示,度、性好。
●测量时,可以预设定量程,并在测量过程中对超量程测试发出声响提示, 适用于器件分组和检验判别。
●选择连续测量,可以对批量试品行不间断测试。
●面板能简单,易于操作。
●重量轻,便于携带。

1 压敏电阻测量

术标	测量范围	作误差	测试条件
起始动作电压U_1mA	0～1700V	≤±2％±1d	1mA±5μA
漏电流I0.75U_1mA	0～199.9μA	≤±2μA±1d	0.75U_1mA≤±2％±1d

2 放电管测量

术标	测量范围	作误差	测试条件
直流击穿电压Vsdc	20～1700V	≤±2％±1d	电压上升速率100V/S±10%

3 其它标
● 缘电阻：6MΩ（500V）
● 耐压：AC 1.5kV 50HZ 1min
● 作温度和湿度：0～＋40℃ ≤85％RH
● 储存温度和湿度：－10℃～＋50℃ ≤90％RH
● 电源: AC 220V 50Hz
DC 12V 0. （芯线＋）
● 耗：8W
● 外形尺寸：208mm×190mm×78mm
● 重量：≤1kg

2.壁挂式温湿度变送器/壁挂式温湿度变送仪型号：XA-WAS-B

、产品介绍

XA-WAS-B/WAS-BX系列壁挂式温湿度变送器采用AM2302电容式数字温湿度传感器作为湿度测量件、DS18B20作为温度敏感元件，配以稳定信号处理电路，将环境中的温度与湿度转换成与之相对应的标准信号，具有体积小、重量轻、测量度、响应速度快、稳定性好等特点，可广泛应用于器象、防、科研、邮电、烟草、化、环保、档案文物保存、疗卫生、宾馆、粮食等各种需要对空器温湿度行测量与控制的场合。
选用质量集成式数字温湿度传感器AM2302，了变送器优良的稳定性、低延滞性、以及强抗化学污染能力，这种变送器优的可重复性。集成湿度传感器还可免校准快速换，而且成本较低。
典型应用:
*药化通讯机房 HVAC暖通空调
*环境监测电信基站图书、档案馆
*洁净厂房智能楼宇超市、生产车间
*业自动化
特点:
*优的性能价格比，稳定性好
*耐湿，可用于各种恶劣环境
*量程温度补偿，低温湿度测量
*数字化校准，温湿度测量范围宽，性
*易维护，温湿度传感器探头可免校准快速换

术性能：

供电电源	24V DC
相对湿度	0～RH
湿度传感器	湿敏电容
湿度信号输出	0～5VDC	0～10VDC	4～20mA	RS485
作范围	0..RH
度	±2%RH（25℃） <±5%RH（-20～80℃）
温度传感器	DS18B20
温度信号输出 (温度测量可选范围): 0～50℃ -20～80℃ -40～60℃	0～5VDC 0～10VDC 4～20mA MOBUS RS-485通讯信号
度	±0.2℃
损耗电流	直流供电典型值15mA
电气连接端子	螺纹接头 zui大值1.5mm²
外壳/防护等	ABS
温度范围	作温度-40～80℃
	存储温度-40～80℃

显示屏参数：采用标准显示屏
   显示屏规格：45mm*35mm
   显示屏作温度范围：-30～75摄氏度
   视角范围：水平视角120度，垂直视角120度

3.薄膜测试仪/能薄膜特性测试仪型号：HZ-DHFC-1

仪器由四探针测试仪和薄膜电导率测量仪两分组成。具有测量度、灵敏度、稳定性好、测量范围宽、结构紧凑、使用方便等特点。仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能的测试。

四探针测试仪由主机、测试架等分组成。可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）、能材料暗电导和光电导及温度的变化的特性，还可以对金属导体的低、中值电阻行测量。测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长。

薄膜电导率测量仪由样品室、温控系统、真空系统、阻测量系统等分组成。

◆ 测量范围：电阻测量范围：1×106～1×1017Ω；

电阻率：0.001～200Ωcm；

电导率：0.005～1000s/cm；

◆ 可测晶片直径： 200mmX200mm；

◆ 探针：碳化钨或速钢；探针间距：1±0.01mm；

◆ 针间缘电阻：≥1000MΩ；

机械游移率：≤0.3%；

◆ 本底真空度：≤10Pa，气压可控范围：10～400Pa；

◆ 衬底加热温度：室温～200℃。

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