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产品详情
- 产品/服务：HAD-XX-2 方块电阻测试仪
- 型 号：HAD-XX-2
- 品 牌：恒奥德科技
- 单 价：面议
- 更新日期：2023-04-13
- 有效期至：长期有效
- 浏览次数：928
产品简介
HAD-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,测量半导体薄层电阻(面电阻)的仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。...
产品详细介绍
方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪
型号：HAD-XX-2
型号：HAD-XX-2
HAD-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,测量半导体薄层电阻(面电阻)的仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻
特点:
1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量稳定。
2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3、采用单个电池供电，带电池欠压指示
4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易
6、带探头与被测物质接触指示(LED)
7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作其简便。
指标
测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度≤5%
探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500 MΩ
北京恒奥德有限公司
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手 机：/
Q Q ：2820129828/1575574360/132129832
网 址： /netshow/ZT11690
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地 址：北京北洼路90号院16号楼317室（北京市地质工程勘察院院内）
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