CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪

产品/服务：CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪
型号：CH-12.7-STSX
品牌：恒奥德仪器仪表
单价：面议
更新日期：2023-11-30
有效期至：长期有效
浏览次数：762

产品简介

数显薄膜测厚仪型号：CH-12.7-STSX分度值：0.001mm测量范围及准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm...

产品详细介绍

数显薄膜测厚仪 型号：CH-12.7-STSX

分度值：0.001mm

测量范围及准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

数显薄膜测厚仪适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）

数显薄膜测厚仪GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

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CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪

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