HAD-WLP-216 平均粒度测定仪

平均粒度测定仪 型号：HAD-WLP-216 仪器操作简单,调试方便,测定速度快 (测 个样品约分钟),度,可 以确到小数点后 3位 。测试结果可直接显示粒度、比表面积、孔隙度等术参数,尚可保存、打印测试数据。(打 印机需另配)...

平均粒度测定仪  比表面积测试仪 孔隙度检测仪  型号：HAD-WLP-216 

比表面积测试仪是利用空气透过原理制成的粉末平均粒度的仪器。是费氏粒度仪更新换代产品,仪器配有计算机。平均粒度测定仪仪器操作简单,调试方便,测定速度快 (测 个样品约分钟),度,可 以确到小数点后 3位 。测试结果可直接显示粒度、比表面积、孔隙度等术参数,尚可保存、打印测试数据。(打 印机需另配)

平均粒度测定仪 

1、测量范围：0.2-20um(微米），20-50um(微米）还可同时测出材料的比表面积

2、孙隙度：0.25-0.95

3、重复性：3%

4、电源：220V  50HZ

5、率：60W

6、重量：主机重18kg

7、外形尺寸：主机 445*240*400mm

8、环境温度：25

9、测试时间:每个样品30秒1分钟

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