HLOWE0001 手持LOWE玻璃膜面检测仪

手持LOWE玻璃膜面检测仪 型号：HAD-HLOWE0001具有明显优势。但LOW-E膜很易损坏，对接触法检测可能定程度有可能损坏玻璃膜面，那么就需要种非接触的检测方法来检测，手持检测是种性价比好的检测方法。...

手持LOWE玻璃膜面检测仪   型号：HAD-HLOWE0001


1.术参数：                                    
 1）电源规格：9伏电压驱动；
 2）物理尺寸：100*60*31；
 3）存放温度：-20到+55 ℃；
 4）操作温度：0到+45 ℃；
 5）大输出率：〈20mW；
  6）使用寿命：30000-50000小时
2．手持LOWE玻璃膜面检测仪  注意事项：保持待测样片及检测仪洁净；检测仪要在正常供电范围内；检测过程中不要用手和其导体或半导体物体接触样片；不要在超的温度下操作。

3.手持LOWE玻璃膜面检测仪  用途概述：

Low-E玻璃又称低辐射玻璃，是在玻璃表面镀上多层金属或其他化合物组成的膜系产品。其镀膜层具有对可见光透过及对中远红外线反射的特性，使其与普通玻璃及传统的建筑用镀膜玻璃相比，具有明显优势。但LOW-E膜很易损坏，对接触法检测可能定程度有可能损坏玻璃膜面，那么就需要种非接触的检测方法来检测，手持检测是种性价比好的检测方法。

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