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产品详情

YL-QAG 流平性测定仪

  • 产品/服务:YL-QAG 流平性测定仪
  • 型 号:YL-QAG
  • 品 牌:恒奥德仪器仪表
  • 单 价:面议 
  • 更新日期:2023-10-19
  • 有效期至:长期有效
  • 浏览次数:824
产品简介

流平试验器主要用于实验室测定液态涂料的相对流平性(涂料在干燥过程中消除表面弊病的能力)。本试验器适用于ASTM 02501-199 D2801-1994及JB/T3995-1999 标准。主要术参数...

产品详细介绍

1.流平性测定仪 流平测定仪型号:YL-QAG

流平试验器主要用于实验室测定液态涂料的相对流平性(涂料在干燥过程中消除表面弊病的能力)。本试验器适用于ASTM 02501-199 D2801-1994及JB/T3995-1999 标准。
主要术参数
1 QAG-1:涂层 100-1000μm 外形尺寸:框式 1202020mm (长 x 宽 x )
2 QAG-2:涂层 250~4000μm 外形尺寸:槽式 12022X20mm(长 X 宽 X )







2.漏电流钳形表/漏电保护检测仪   型号:DH-2413F

DH-2413F-特点

有特宽的夹钳,非常适合夹三或四线(三相)的电线,可测其泄漏电流
●具有频率滤波开关,可消除谐波效应
●具有峰值保持能
●带模拟输出端
型号
 DH-2413F
交流电流(50/60Hz)
200mA/2/20/200A/1000A读数的±1.5%±2位
(200m/2A/20)读数的±2%±2位
(200A0~500A)读数的±5.5%(501~1000A)
交流电流(WIDE)
200mA/2/20/200A/1000A
读数的±1%±2
(200mA/2A/20A)(50/60Hz)
读数的±2%±2(200A 0500A)读数的±5.5%(5011000A)
被测导体尺寸
zui大68mm
安标准
IEC61010-1 CAT.III 300V
IEC61010-2-032
外界磁场影响
Φ15mm 100A
zui大交流 10mA
频率响应
40Hz1kHz
输出
/直流200mV时读数2000
耐压
3000V AC - 分钟
电源
6F22(9V)×1
体积
250(L)×1 30(W)×50(D)mm
重量
570









3.手持式四探针测试仪 四探针测试仪 型号:GZ-RTS-3


量范围宽、度、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计
体积仅为:185mm(长)*90mm(宽)*30mm(); 重量:350g;
使用锂电池供电,次充电可连续使用100小时
 
    RTS-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
    仪器采用了新电子术行设计、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
 
 术  标 :
 
 测量范围
 电阻率:0.01~1999.9Ω.cm;  
 方块电阻:0.1~19999Ω/□; 
恒流源
 电流量程分为100μA、1mA两档,两档电流连续可调
数字电压表
 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV;  
 输入阻抗:>1000MΩ; 度:±0.1%;  
 显示:以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;性、超量程自动显示;
四探针探头基本标
 间距:1±0.01mm;  针间缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%;
 探针:碳化钨或速钢Ф0.5mm; 探针压力:5~16 牛顿(总力);
四探针探头应用参数
 (见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87行)
 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量zui大相对误差
(用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度
 ≤5%
外型尺寸
 185mm(长)*90mm(宽)*30mm()
重量
 350g
电源
 锂电池,次充电可连续使用100小时;
标准使用环境
 温度:23±2℃; 相对湿度:≤65%; 无频干扰; 无强光直射







温馨提示:以上产品的资料和图片都是按照顺序相对应的
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