GZ-LT-2单晶少子寿命测试仪

产品/服务：GZ-LT-2单晶少子寿命测试仪
型号：GZ-LT-2
品牌：恒奥德仪器仪表
单价：面议
更新日期：2023-10-19
有效期至：长期有效
浏览次数：781

产品简介

GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之。...

产品详细介绍

单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号：GZ-LT-2

GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较，配备有红外光源，可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据通用方法频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五份组成。采用印刷电路和频接插连接。整机结构紧凑、测量数据。

　术　　标 ：

测试单晶电阻率范围	>2Ω.cm
可测单晶少子寿命范围	5μS～7000μS
配备光源类型	波长：1.09μm；余辉<1 μS；闪光频率为：20～30次／秒；闪光频率为：20～30次／秒；
频振荡源	用石英谐振器，振荡频率：30MHz
前置放大器	放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz
仪器测量重复误差	<±20％
测量方式	采用对标准曲线读数方式
仪器消耗率	<25W
仪器作条件	温度： 10-35℃、湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz
可测单晶尺寸	断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
配用示波器	频宽0—20MHz；电压灵敏：10mV／cm；

2.超便携气压压力真空源/气压泵型号；HAD-SPMK2000H

压力计量或校准过程经常需要到现场行，目前市场流行的主流设备大多较笨重，出行校验很不方便。外产品以手钳式为主，加压费力，不便操作。HAD-SPMK2000H超便携式气压压力真空源主要用于现场校准或检定无腐蚀性的气压压力仪表。
HAD-SPMK2000H超便携压力真空源，由特殊的硬质铝合金材料制，质量轻，便于携带。与本公司HAD-SPMK2003D智能数字压力校验仪，SPMK2000-2口压气体连接管，HAD-SPMK2000-1系列压力转换接头，仪表检定专用具和仪器箱配合使用。是理想的压力现场检定解决方案。

特点
◆结构简单、操作省力（远比手钳型压力泵省力）
◆便于携带、不易泄露、维护方便
◆不怕脏、不怕潮
◆可与多个量程SPMK2003D智能数字压力校验仪供选择。

术标
◆压范围：压力：（-0.095～0～2.5）MPa
◆体积：（230×120×108）mm
◆调节细度：0.1 kPa
◆重量：1.5kg

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3.太阳能温度计温度计型号：HYL-DST-50

太阳能供电，密封防水设计并具备补偿电池，在无光的条件也能正常作。适用于冷藏柜、展示柜等需要温度测量和显示的各种设备

规格尺寸

安装尺寸：68mm*29mm

术参数：

电源：太阳能电池板

测温范围：-50℃-150℃

分辨率：0.1

度：±1℃

使用环境：光照度：≥100Lux，湿度：5-85%RH

温度：-10℃-45℃

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GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之。...

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