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便携式四探针测试仪/电阻率检测仪用途DP25917型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的仪器。...
便携式四探针测试仪/电阻率检测仪 型号:DP25917
便携式四探针测试仪/电阻率检测仪用途
DP25917型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的仪器。
本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、院校对半导体材料的电阻性能测试。
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便携式四探针测试仪/电阻率检测仪技 术 指 标 : |
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便携式四探针测试仪按测量范围可选配DP25917型或DP25917A型,区别:测量范围不一样。 |
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