数显测厚仪/数显测厚计

数显测厚仪/数显测厚计 型号：DP-L200数显测厚仪/数显测厚计说明： DP-L200数显测厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法，是种...

数显测厚仪/数显测厚计   型号：DP-L200

数显测厚仪/数显测厚计  说明：   
      DP-L200数显测厚仪采用了磁感应和电涡流技术测厚法，是种小型测量仪。可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)，也可测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如橡胶、油漆、塑料、阳氧化膜等）。本仪器可广泛用于制业、金属加工业、化工业、商检等检测域。由于该仪器体积小，测头与仪器体化，别适用于工程现场测量；该仪器坚固耐用、用途广泛，可单手操作。 
 数显测厚仪/数显测厚计   详细介绍：
   公司是业生产涂层测厚仪的公司，产品精度，稳定可靠，坚固耐用！直为美军方和hang空航天行业自使用。

    DP-L200涂镀层测厚仪设计便携耐用，使其能在苛刻条件下正常使用，具有键操作功能，无须校准，也不用重设即可行下次测量，无需对操作人员行培训即可操作。
DP-L200 测厚仪功能：
    可行零点校准及全量程校准。红宝石防磨探头。可对探头行基本校准。具有自动关机功能。操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有错误提示功能。
DP-L200两用型测厚仪指标：
测量原理：磁感应法和涡流法（Fe/NFe两用探头）
测量范围：1～1250μm
测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）
分辨率：1μm
工件要求：zui小曲率半径（mm）凸5  /  凹 25 ；
                   接触zui小面积直径10mm×10mm；
                   基体zui小厚度Fe:0.2 mm；NFe:0.05mm
使用环境：温度0-60摄氏度；湿度 20%-75% ；无磁场环境
电源：四节1.5伏AAA电池
外形尺寸：112 ×69×28mm
重量：82 g(不含电池)
标准配置：
主机、标准校准片、校准铁基体和铝基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳及电池 

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