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电阻率/方块电阻测试仪测量对象
发布时间:2018-11-20浏览次数:1665返回列表
电阻率/方块电阻测试仪
本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护,在宽广的量程范围内,使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。
由于薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电流均不相同,测试仪可为用户量身定制各种定探针压力及曲率半径的探针头,仪器的测试电流分7档,可由0.4μA增加到zui大为1000mA,测试电压可由8V增加到80V,测试电压和测试电流均可连续调节,给薄膜、涂层的研制者提供了个摸索zui佳测试条件的宽阔空间。
由于仪器设有恒流源开关,并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能,充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。
方阻测量范围:1×10-5~2×106Ω/□,zui小分辨率1×10-5Ω/□;
电阻率测量范围:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,zui小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探针压力:25g~250g;
探针曲率半径:25μm~450μm
(注:探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制);
测试电流分7档:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;
测试电压:(1μA~10 mA档)12~80V连续可调
(100mA档) 8~36V连续可调
(1000mA档) 8~15V连续可调;
测量方式:手动或自动(配置用测试软件);
测量对象:导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种电子薄膜;各种半导体材料的电阻率。