xt25519光速测量实验(相位法)

产品简介
xt25519光速测量实验(相位法)采用相位法测量光速,直接对光进行调制得到调幅波,采用差频技术测量高频信号的相差,根据相位变化测量波长,得出光速并分析了误差。...
产品详细介绍
北京百思佳特公司 刘静
销售热线 br /> xt25519光速测量实验(相位法)
内置相位计,可直接读取相位变化。
光速测量实验(相位法)
半导激光器的电光特性。
用相位法测量光在空气中的传播速度。
采用相位法测量光速,直接对光进行调制得到调幅波,采用差频技术测量高频信号的相差,根据相位变化测量波长,得出光速并分析了误差。
光学实验导轨1200mm,
实验主机含激光光源650nm, 4mW和探测器。

北京百思佳特公司主营行业:仪器仪表/实验设备/矿用设备/石油产品/教学仪器/医疗器械
如果您觉得“xt25519光速测量实验(相位法)”描述资料不够齐全,请联系我们获取详细资料。(联系时请告诉我从给览网看到的,我们将给您最大优惠!)
本页链接:http://www.geilan.com/com_baisijiate/sell/itemid-7318200.html
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内置相位计,可直接读取相位变化。
光速测量实验(相位法)
半导激光器的电光特性。
用相位法测量光在空气中的传播速度。
采用相位法测量光速,直接对光进行调制得到调幅波,采用差频技术测量高频信号的相差,根据相位变化测量波长,得出光速并分析了误差。
光学实验导轨1200mm,
实验主机含激光光源650nm, 4mW和探测器。
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