xt21666光学膜层厚度测量控制仪
- 产品/服务：xt21666光学膜层厚度测量控制仪
- 型 号：xt21666
- 单 价：面议
- 更新日期：2024-03-25
- 有效期至：长期有效
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产品简介
xt21666光学膜层厚度测量控制仪是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。...
产品详细介绍
光学膜层厚度测量控制仪
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北京百思佳特公司 刘静
销售热线：
是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有强的抑制能力。
主要性能指标及技术指标
主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源： ≤0.2%/h
参考信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围:≥320。
北京百思佳特公司主营行业：仪器仪表/实验设备/矿用设备/石油产品/教学仪器/医疗器械
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