xt18812 薄膜测厚仪（（0.1μm）

薄膜测厚仪（（0.1μm） 构成： 由光电传感器、测量座、抬落机构、数显表等部分组成。特点：检定快速，准确。测量值由数显表直接显示，读数方便可靠，减少人为读数误差；独特的设计使仪器结构稳定性很高，温度...

薄膜测厚仪（（0.1μm）
构成： 由光电传感器、测量座、抬落机构、数显表等部分组成。
特点：检定快速，准确。测量值由数显表直接显示，读数方便可靠，减少人为读数误差；独特的设计使仪器结构稳定性很高，温度稳定性很好；测量重复性好，漂移量很小。可实现任意位置清零、
薄膜测厚仪（0.1μm）
产品简介:
薄膜检测仪对各种薄膜测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等，并且可以与计算机连接通讯，实现数据自动处理，从而提高了检验速度，减轻了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感，经济实用，适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。
构成： 由光电传感器、测量座、抬落机构、数显表等部分组成。
特点：检定快速，准确。测量值由数显表直接显示，读数方便可靠，减少人为读数误差；独特的设计使仪器结构稳定性很高，温度稳定性很好；测量重复性好，漂移量很小。可实现任意位置清零、
公/英制转换、预先置数、自动求zui大值和zui小值等多种智能功能；可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等；对环境温度波动相对不敏感，现有基层计量室不
必提高温控要求即可使用。
主要参数
数显分辨率：0.1μm
zui大示值误差：±（0.4+0.04L）μm
测量范围：0-10mm
北京百思佳特公司主营行业：仪器仪表/实验设备/矿用设备/石油产品/教学仪器/医疗器械

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